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激光近場測量系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品型號:LS-VCS-NF
  • 更新時間:2024-12-28

簡要描述:激光近場測量系統(tǒng)專門針對VCSEL近場測試研發(fā),在特定顯微區(qū)域?qū)崿F(xiàn)對VCSEL芯片發(fā)光效果、能量分布、光斑尺寸,以及穩(wěn)定性進行測試??蓽y量發(fā)光點數(shù)統(tǒng)計、壞點/異常點標記,各發(fā)光點光功率一致性統(tǒng)計、光束束腰直徑、近場發(fā)散角、光束質(zhì)量因子M²。

產(chǎn)品詳情

激光近場測量系統(tǒng)

型號:LS-VCS-NF

 

隨著物聯(lián)網(wǎng)、AI5G技術的發(fā)展,VCSELVerticalCavitySurfaceEmittingLaser,垂直共振腔表面放射激光)技術作為3D成像和傳感系統(tǒng)的核心技術,目前在人臉識別、3D感測、汽車自動駕駛、手勢偵測和VR(虛擬現(xiàn)實)/AR(增強現(xiàn)實)/MR(混合現(xiàn)實等應用領域越來越受到關注??梢詾榭蛻籼峁?/span>VCSEL-3DSENSING/TOF檢測解決方案:LIV光譜/功率積分測試、NF近場特性測試、FF遠場特性測試、BRDF/BTDF光學材料AR/VR特性測試、VCSEL專用積分球。以實現(xiàn)客戶對VCSEL/MiniLED/MicroLED單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測量、光譜波長及功率測量、近場遠場測量等各種定制化應用需求。

 

專門針對VCSEL近場測試研發(fā),在特定顯微區(qū)域?qū)崿F(xiàn)對VCSEL芯片發(fā)光效果、能量分布、光斑尺寸,以及穩(wěn)定性進行測試。可測量發(fā)光點數(shù)統(tǒng)計、壞點/異常點標記,各發(fā)光點光功率一致性統(tǒng)計、光束束腰直徑、近場發(fā)散角、光束質(zhì)量因子M2

激光近場測量系統(tǒng) 

技術優(yōu)勢特點:

l                      光譜范圍:400-1000nm/900-1700nm

l                      采用917萬像素相機進行數(shù)據(jù)采集,采集數(shù)據(jù)分辨率高

l                      光路配置可根據(jù)光強功率旋轉(zhuǎn)濾光輪,選擇衰減片:OD0.3-OD4,共6種濾光片

l                      可測量微小束腰的激光:10倍物鏡≥10μm,20倍物鏡≥5μm

l                      近場光路系統(tǒng)(直接耦合成像鏡頭和光路模塊,一體化設計)

l                      實時監(jiān)測光點數(shù)統(tǒng)計、壞點/異常點標記,各發(fā)光點光功率一致性統(tǒng)計、光束束腰直徑、近場發(fā)散角、光束質(zhì)量因子M2

 

激光近場測量系統(tǒng) 

激光近場測量系統(tǒng) 

激光近場測量系統(tǒng)主要技術指標:

激光近場測量系統(tǒng) 

 

激光近場測量系統(tǒng) 

 

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